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        產品詳情
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        • 產品名稱:HEKA ELPro Scan電化學工作站/顯微鏡

        • 產品型號:ELPro Scan/ELP1/ELP3
        • 產品廠商:HEKA
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        簡單介紹:
        ElProScan掃描電化學顯微鏡 HEKA ElProscan是一臺掃描電化學顯微鏡,用于研究樣品的電化學活性表面。它屬于 掃描探針顯微鏡(AFM, STM, SECM)家族的一員。2005年HEKA公司創立了ElProscan 品牌,它包括傳統的SECM實驗方法及擴展功能。整個系統包括三個主要部分,定位 系統,雙恒電位儀,數據采集系統。 定位系統控制微電極在溶液中電化學活性樣品表面上進行三維掃描,因此ElProscan 可用作傳統的SECM儀器并且具有更多的功能。ElProscan與傳統的SECM不同之處在于 它不僅僅記錄針尖的電流信號,而且在針尖上可實現任何電化學實驗方法的應用 (用可編程脈沖發生協議Programmable Pulse Protocol來完成)。在脈沖發生協議 運行過程中,在樣品上應用獨立的電
        詳情介紹:

        HEKA ELPro Scan 電弧學掃描顯微鏡系統上乘支持眾多材料類型:

        ? 金屬/ 合金/ 金屬陶瓷
        ? 光伏半導體和鋰電材料
        ? 導電聚合物
        ? 復合型納米結構
        ? 生物細胞,大分子和納米膜
        ? 有機電解質/溶液界面/離子液體
        ? 電化學活性有機物
        以及更多的前沿交叉科學材料…


        HEKA ELPro Scan電化學掃描顯微鏡系統*全的掃描技術和掃描模式:
        ? Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
        ? Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
        ? Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)
        ? Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM)
        ? Scanning Kelvin Probe (SKP)
        ? Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET)
        ? Simultaneous Surface Topography Mapping
        ? Shear-force Height and Volume Instant Tracking
        ? Synchronized Fluorescence Imaging
        ? Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM)
        ? Spatially-resolved Scanning μ-EIS, μ-CV, μ-Tafel

        滬公網安備 31010502003083號

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